- Исследование физико-химических свойств и измерение параметров материалов, микро- и наноструктур:
- топографии поверхности с атомным разрешением, латеральное распределение элементов и плотности электронных состояний с высокой степенью локальности (на уровне долей и единиц нанометра);
- спектров поглощения (пропускания) в области волновых чисел от ближней инфракрасной и видимой до ближней ультрафиолетовой областей спектра с высокой чувствительностью и энергетическим разрешением на уровне долей и единиц обратного сантиметра;
- механизм роста и атомной структуры адсорбционных систем в области покрытий от субмонослойных и выше;
- исследование химического состава и электронной структуры материалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
проведение фазового анализа материалов методом рентгеновской дифрактометрии;
- динамики быстрых и сверхбыстрых процессов, процессов релаксации электронных фотовозбуждений, фотофрагментации материалов и наноструктур и адсорбционных систем.
- Исследование химического состава твердых, жидких и газообразных проб методом хроматографии, плазменной спектроскопии, ИК-Фурье спектроскопии и УФ-спектроскопии
- Проведение научных и аналитических измерений, технологических работ и испытаний, связанных с тематической направленностью ЦКП
- Разработка метрологического и научно-методического обеспечения работ в области физики и технологии наноматериалов
- Обучение студентов, аспирантов, производственников методам работы на научных приборах и экспериментальным методикам в области наноматериалов
- Предоставление возможности работы на научных приборах и технологическом оборудовании пользователям.
Стоимость типовых услуг